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【瑞茂光学】X-RAY 芯片检测设备X-7100高解析度X射线检测仪采用高解析度增强屏和密封微焦X射线管组合的结构,通过X射线非破坏性透视检查,实时观察到清晰的图片。另外,强大的软件测量功能使得检查效率大大提高。除此之外,通过安装CNC组件,可以使检测过程变得更轻松、快捷。全数码X射线检查机X-7100全系采用数字平板探测器及X射线集成数码影像截取技术。
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13829111231| X-RAY 芯片检测设备X-7100简介 |
【瑞茂光学】X-RAY 芯片检测设备X-7100高解析度X射线检测仪采用高解析度增强屏和密封微焦X射线管组合的结构，通过X射线非破坏性透视检查，实时观察到清晰的图片。另外，强大的软件测量功能使得检查效率大大提高。除此之外，通过安装CNC组件，可以使检测过程变得更轻松、快捷。全数码X射线检查机X-7100全系采用数字平板探测器及X射线集成数码影像截取技术. |
| 全型号 类 3D 成像 | |
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| X-RAY 芯片检测设备X-7100自动量测功能 | |
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| X-RAY 芯片检测设备X-7100应用 | |
| 应用范围 |
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| X-RAY 芯片检测设备X-7100基本操作 | |
| 载物台操作 |
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| 全自动 BGA 检测程序 |
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| 数控编程 |
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| X-Ray X-7100检测设备技术参数 | ||
| X-RAY发射管 | 光管类型 | 封闭式X光管 |
| 最大管电压 | 90KV | |
| 最大管电流 | 0.12mA | |
| 焦斑大小 | 5um | |
| 放大倍率 | 几何倍率：150X 系统倍率：1000X | |
| 探测器 | 速度 | 20fps |
| 分辨率 | 1124*1000 | |
| 倾斜角度 | 探测器60°倾斜 | |
机柜规格 | 载物台大小 | 640mm*540mm |
| 外形尺寸 | 长：1360mm，宽：1685mm，高1630mm | |
| 设备净重 | 900KG | |
| 输入电压 | AC110-220V (±10%）（国际通用之供电方式） | |
| X射线泄漏量 | ≤1uSv/h | |
| 操作系统 | Windows7 | |
| 整机功率 | 1.5KW | |
| X-RAY 芯片检测设备X-7100标准配置 | |||
| 名称 | 数量 | 单位 | 备注 |
| 90KV-5um封闭式X光管 | 1 | 件 | |
| 载物台 | 1 | 件 | 尺寸：640mm*540mm |
| 平板探测器 | 1 | 件 | 全数字高清 |
| 图像处理器CPU | 1 | 件 | 使用功能齐全 |
| 液晶显示器 | 1 | 件 | 24" |
| X-RAY 芯片检测设备X-7100规格参数 | |
| X-ray 光管类型 | 封闭式 |
| 空间分辩率（um） | 3 |
| 光管电压（KV） | 90 （可选 110kv） |
| 光管电流（uA) | 250(最大值 556） |
| 放大倍率 | 200x |
| 数字平板探测器分辩率 | 1300*1100 像素 |
| 数字平板探测器密度值 | 14bit （16348） |
| 图像速度 | （FPS) 30 |
| 平板旋转角度 | 60 度 |
| 载物台尺寸 | 410*430mm |
| 载物台旋转 | - |
| X-Y 行程 | 580*750mm |
| 检测范围 | 0.02-45 平方厘米 |
| 机器尺寸（L*W*H) | 1050mm,1200mm,1580mm（LMH) |
| 机器重量 | 1050KG |
| 操作系统 | WINDOWS 7 |
| 电源/功率 | AC110-220V 50-60HZ 1200W |
| 辐射安全测试 | <1 uSV/H |
